中教数据库 > 半导体光电 > 文章详情

一种压电半导体纳米线的热电耦合性能研究

更新时间:2023-05-28

【摘要】采用有限元分析方法,研究了一种n型压电半导体纳米线(氧化锌)的电热耦合性能,分析了外部温度对氧化锌纳米线内部机械场、电场及电流场分布的影响,并讨论了本构方程线性化对电学参数的影响。研究结果表明,温度对氧化锌纳米线的电场、载流子浓度和电流密度影响很大,采用线性本构和非线性本构求得的电场、电子浓度和电流密度最大相差分别为24%,32%和68%,基于非线性本构分析压电半导体的电学性能会引起很大误差。该研究结果可为压电半导体器件利用温度调控电场、电流提供理论依据。

【关键词】

150 2页 免费

发表评论

登录后发表评论 (已发布 0条)

点亮你的头像 秀出你的观点

0/500
以上留言仅代表用户个人观点,不代表中教立场
相关文献

推荐期刊

Copyright © 2013-2016 ZJHJ Corporation,All Rights Reserved

京ICP备2021022288号-1

京公网安备 11011102000866号